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使用光耦參數測試儀的方法
點擊次數：334 更新時間：2017-09-11
光耦因素測試測試儀器型號：JFY3010A

JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹 
※概述: 
JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用 方便,適用電子產品 或電子元件供應商來料檢測。 
※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦 
※             測量(liang)參數:

參數要求要求表:

指標項

各種測試規格

檢查環境設置

手機輸(shu)入正方(fang)向壓降(jiang)(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐壓試(shi)驗(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

傳輸(shu)數據比(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

飽和狀態(tai)壓降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

輸出漏電流(Iceo)0-1mAVCE=20V
輸入反向漏電流(IR)0-1mAVR=4V
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