半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

   
該系列儀器的(de)技(ji)(ji)(ji)術指標均滿足國家計量(liang)總局頒(ban)布的(de)JJG547-88檢(jian)定規程的(de)要求，整機(ji)功能(neng)采用美國微電腦控制處(chu)理(li)技(ji)(ji)(ji)術及(ji)上SMT芯(xin)片貼片封裝技(ji)(ji)(ji)術和(he)(he)半(ban)導體激光傳感器技(ji)(ji)(ji)術及(ji)防噪聲(sheng)氣泵(beng)，可直接打印檢(jian)測結果。具(ju)有功能(neng)多(duo)、測量(liang)精度高、速(su)度快(kuai)、便于攜帶和(he)(he)操(cao)作簡單等特點。儀器一(yi)次采樣可同(tong)時測得多(duo)種粒徑(jing)(jing)的(de)塵埃粒子數(shu)，并能(neng)選(xuan)擇觀察其中(zhong)某一(yi)粒徑(jing)(jing)粒子的(de)數(shu)目及(ji)其變(bian)化情況，對于研究、檢(jian)測和(he)(he)評價各(ge)種潔凈環境都十分方便。該系列儀器性(xing)能(neng)設計、質(zhi)量(liang)穩(wen)定可靠

半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

   
　　該系列產品已被廣泛應用于潔凈室檢測；過濾器現場檢測、撿漏；可監測凈工作臺、生物安全柜，HVAC系統，計算機室、飲料包裝環境，醫療器械生產環境，醫院潔凈手術室，汽車噴涂環境微電子、制藥、生化制品、食品衛生、精細化工、精密機械和航空航天等生產和科研部門，是制藥企業及其監督管理部門貫徹GMP規范及電子生產企業的儀器。 半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

主要(yao)技術參數及性能：

半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

1.光源: 全半導體 激光光源 
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min) 
3.檢測范圍: 100級～100萬級  
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L 
5.粒徑通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六檔 
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。 
7.采樣周期: 1～10 (min) 
8.自凈時間: ≤15 (min) 
9.校準：可追溯美國國家標準技術協會（NIST）
10.工作環境: 溫度:10～35℃    相對溫度: 20～75%RH 
11.Z大功耗: 25W 
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購） 
（1）         溫度：0～50℃±1℃ 
（2）         濕度：0～100%RH±5% 
13.采樣點數   2～7點設定 
14.每點采樣次數   2～9次設定 
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準 
16.工作時間：8 小時 
17.電源： AC220V±10%    50±2Hz 
18.重量:4.8kg 
19.外形尺寸: 260×130×340 
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。 
21.備注: 內置打印機、自動判斷(duan)凈化(hua)等(deng)(deng)級、等(deng)(deng)動力采(cai)樣(yang)頭、采(cai)樣(yang)架(jia)

半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D